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SCIENION-使用二硫化钨纳米片辅助激光解吸电离质谱法定量分析免疫抑制性药物

398 人阅读发布时间:2021-08-10 10:25

精准点样专家

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使用二硫化钨纳米片辅助激光

解吸电离质谱法定量分析免疫抑制性药物

 

治疗性药物监测(TDM)方法对于确保药物治疗的有效性和安全性至关重要,但目前成本昂贵,且对其特异性或通量有限。

韩国标准与科学研究院(KRISS)在ACS Nano上发表的新研究,通过引入一种非常敏感且成本高效的方法来监测器官移植患者血样中的免疫抑制药物,克服了这些限制。他们利用W2纳米片辅助基质激光解吸电离(LDI -MS)与SCIENION公司的自动精准喷点技术相结合,他们能够以高重复性和准确性对患者样本进行高通量分析。

摘要:

对于器官移植患者,免疫抑制剂的治疗药物监测(TDM)对于防止器官毒性或排斥反应至关重要。

目前,TDM是通过免疫分析或液相色谱-串联质谱(LC-MS/MS)方法进行的;然而,这些方法缺乏特异性或价格昂贵且需要高水平的技能,并且提供的样本量有限。尽管基质辅助(MA)激光解吸电离(LDI)质谱(MS)可以提供更高的通量和成本效益,但由于基质的局限性,如缺乏灵敏度和可重复性,其在TDM中的应用受到限制。在这里,我们提出了一种利用基于二硫化钨纳米片的激光解吸电离质谱(LDI-MS)对器官移植患者血液中的免疫抑制药物的替代性量化方法,它以其优异的物理化学特性(如强紫外吸收率和高电子迁移率)而闻名。通过采用与SCIENION公司的自动精准喷点技术相结合下,实现了对血样的高通量分析,提高了灵敏度和可重复性。此外,我们分析了多达80例患者样本,并通过使用Passing-Bablok回归和Bland-Altman分析将结果与LC-MS/MS进行了比较,证明我们的LDI-MS平台适合取代目前的TDM技术。我们的方法将有助于快速准确地分析免疫抑制药物处方中大量患者的血样。

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祝贺Sunho Joh、Jin Gyeong Son以及Tae Geol Lee博士实验室的所有成员完成这项精彩的工作!

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